Número de Producto del Fabricante:
SN74ABTH18652APM
Product Overview
Fabricante:
Texas Instruments
Número de pieza:
SN74ABTH18652APM-DG
Descripción:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Descripción Detallada:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventario:
1696816
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Rq8B
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ENVIAR
SN74ABTH18652APM Especificaciones Técnicas
Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
Tray
Serie
74ABTH
Estado del producto
Active
Tipo de lógica
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
18
Temperatura de funcionamiento
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
64-LQFP
Paquete de dispositivos del proveedor
64-LQFP (10x10)
Número de producto base
74ABTH18652
Hoja de Datos y Documentos
Hojas de datos
Información Adicional
Paquete Estándar
160
Otros nombres
-296-4137
SN74ABTH18652APMG4-DG
-SN74ABTH18652APMG4
TEXTISSN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APM-NDR
-296-4137-NDR
296-4137
-296-4137-DG
296-4137-NDR
SN74ABTH18652APMG4
2156-SN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APMG4-NDR
Clasificación Ambiental y de Exportación
Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
3 (168 Hours)
Estado de REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificación DIGI
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